JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则

标准编号:JY/T 0582-2020

标准名称:扫描探针显微镜分析方法通则

英文名称:

中国标准分类号(CCS):Y51

国际标准分类号(ICS):03.180

发布部门:教育部

起草单位:上海交通大学、汕头大学、西南科技大学、北京大学、华东理工大学

标准状态:现行

发布日期:2020-09-29

实施日期:2020-12-01

标准简介:

本标准规定了扫描探针显微镜主要的方法原理、实验材料、仪器、样品及其制备、分析测试、结果报告和安全注意事项
本标准适用于扫描探针显微镜在大气、液体环境和真空中进行微区形貌、力学、电磁学、热学性能和纳米操纵的分析。

部分内容展示:

9.1.3电性能测试电性能测试模式的选择
a)静电力显微镜,在轻敲模式下,探针针尖离开样品一定的距离时,得到表面的微观电场梯度的分布;b)开尔文显微镜(KFM),检测微纳米范围内不同材料的接触电势差,若在大气下测试,由于样品表面吸附、氧化和电荷累积的影响,实际接触电势差会与理论值有所差别;c)接触导电模式(C-AFM),在接触模式下探针和样品之间形成电路,施加偏压后,会产生一定的电流。适合用弹性系数较小的探针进行样品表面电流成像和测试电流电压曲线d)压电力显微镜(PFM),应用导电探针检测样品在外加激励电压下的电致形变量,适合用来研究压电、铁电和生物材料的机电耦合效应;e)扫描电容显微镜(SCM),进行表面区域的电容成像,其中接触式电容显微镜得到的电容对电压的梯度像受表面形貌的影响较大,而非接触式电容显微镜利用轻敲模式下的抬高模式扫描,效果较理想
f)扫描分布电阻显微镜(SSRM),用导电探针测试表面的微小区域电阻,通常使用接触模式,对于有些表面具有氧化层的样品,需要使用较硬的探针,施加较大的作用力来穿透表面氧化层
)电化学显微镜(EC-AFM),探针在密封的带有电极的电解池溶液中对样品表面进行扫描成像可以在研究电化学过程的同时获取样品形貌变化,金属晶体、离子晶体、高定向热解石墨
(HOPG)、半导体等均可作为工作电极,工作电极表面应极为平整h)扫描隧道显微镜,可以得到导体和半导体样品表面电流分布图像以及电流电压曲线i)扫描微波阻抗原子力显微镜,精确探测材料微纳米区域的电容和电阻的变化。

博创标准pdf下载网
博创标准下载网 » JY/T 0582-2020 扫描探针显微镜分析方法通则

发表评论

提供最优质的资源集合

立即查看 了解详情